老化測試系統(tǒng)
型 號SD2000
所屬分類檢測儀
報價
更新時間2024-11-19
產(chǎn)品描述：SD2000老化測試系統(tǒng)提供對MCU、CPU、CPLD、FPGA、大容量存儲器等超大規(guī)模集成電路的高低溫動態(tài)老化測試，將老化與電參數(shù)測試結合，在老化過程中可測試不同溫度區(qū)間器件的電參數(shù)特性。
產(chǎn)品概述
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 化工,電子 |
產(chǎn)品描述
SD2000老化測試系統(tǒng)提供對MCU、CPU、CPLD、FPGA、大容量存儲器等超大規(guī)模集成電路的高低溫動態(tài)老化測試，將老化與電參數(shù)測試結合，在老化過程中可測試不同溫度區(qū)間器件的電參數(shù)特性。
基本特點:
1. 老化測試系統(tǒng)單板128路雙向I/O通道，共用8個時鐘邊沿（6個驅(qū)動邊沿，2個比較邊沿）
2. 1Mbit/通道圖形深度，失效存儲深度1kbit/通道，只存失效
3. 支持圖形向量微指令
4. 單板4通道PMU，提供 FV,FI,MV,MI功能，電壓范圍-3V~+12V；電流范圍-80mA~+80mA
5. 數(shù)字通道驅(qū)動電壓范圍-3V~+12V；比較電壓范圍-3V~+12V
6. 數(shù)量可配置程控電源，可提供0.5~5V 30A 0.5~ 3.3 30A 3-24V 等
7. 提供各老化試驗區(qū)電壓、電流測試
8. 128個輸出控制繼電器
9. 試驗溫度范圍：5℃～150℃；溫度均勻度±3℃
10.RJ45網(wǎng)口數(shù)據(jù)傳輸與控制
11.高溫老化試驗箱分16個區(qū)域，支持同時老化測試16種不同類型、不同封裝形式的器件
12.系統(tǒng)提供電源過壓、過流和短路保護
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